? 四通道動態(tài)LED陣列近紅外光譜儀 DUAL-KLAS-NIR
DUAL-KLAS-NIR不但集成了Dual-PAM-100的基本功能，可以同時測量PSP和PSI，而且能夠測量4組不同波段（780-820 nm, 820-870 nm, 840-965 nm, 870-965 nm）的信號，實現(xiàn)對P700（PSI反應(yīng)中心）、PC和Fd的氧化還原狀態(tài)分別測量。另外，它還可以測量由540 nm和460 nm光化光激發(fā)的葉綠素熒光。利用DUAL-KLAS-NIR四通道動態(tài)LED陣列近紅外光譜儀，可以準同步地測量各種不同的信號，不僅在馳豫動力下，還可持續(xù)地在自然穩(wěn)態(tài)下同時獲取各組分的信息。
? 便攜式光合-熒光測量系統(tǒng)——GFS-3000
測量光合作用、蒸騰作用、呼吸作用、葉綠素熒光（可選），氣體交換和熒光參數(shù)的光響應(yīng)曲線和 CO2 響應(yīng)曲線，同步測量 CO2 氣體交換與其它光合指標。應(yīng)用于植物生理、植物生態(tài)、農(nóng)學(xué)、林學(xué)、園藝學(xué)等領(lǐng)域。
? PhenoWatch系列溫室-田間表型分析系統(tǒng)
PhnoWatch高通量植物表型分析系統(tǒng)，深度集成了激光雷達、高光譜成像、紅外熱成像、多光譜成像與RGB成像單元，可智能化移動至不同測量區(qū)域，按預(yù)設(shè)值自動掃描作物，生成含多光譜信息的三維影像，進行群體植物的單株識別，單株植物的莖葉分離，精準獲取植物株高、株幅、葉長、葉寬、葉傾角、葉面積、郁閉度、冠層透光率等表型參數(shù)，結(jié)合光譜特征進行植被指數(shù)的計算，及冠層溫度與生物量的統(tǒng)計分析。
? 新型植物根系生長監(jiān)測系統(tǒng)CI-602
測量根系長度、直徑、截面積、投影面積、根尖數(shù)等參數(shù)，獲取定位的不同時間季節(jié)、不同深度的根系分布或土壤剖面圖像數(shù)據(jù)，廣泛應(yīng)用在田間農(nóng)作物根系研究、林木根系長期監(jiān)測，水利工程（例如大壩）護坡草坪選種培育、古樹病蟲害的監(jiān)測、草原的植被恢復(fù)與保護研究。
Ampha Z32采用阻抗流式細胞分析技術(shù)，大大縮短了樣品預(yù)處理的時間，無需染色、操作簡單、測定快速，并且不會破壞花粉，大大節(jié)省了科研工作者的時間及勞動支出，并可得到大量可供分析的信息和實時數(shù)據(jù)。主要檢測細菌，酵母菌（含孢子），動植物細胞，花粉，藻類等的細胞或顆粒的大小，細胞形態(tài)，樣品濃度，細胞活性，細胞凋亡，細胞分化以及非生物顆粒形態(tài)參數(shù)。
關(guān)于上海澤泉科技股份有限公司